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        航天科工防御技术研究试验中心
航天科工防御技术研究试验中心
        中国航天科工集团第二研究院二〇一所组建于2004年2月18日,主要承担航天产品可靠性技术研究,环境与可靠性试验,元器件复验筛选,破坏性物理分析及失效分析,材料理化分析,无损检测及其相关技术研究试验工作,是集科研,开发,咨询和试验于一体的产品保证技术研究所。


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检测项目
检测项目 检测能力 检测依据 检测描述
电气元件 电连接器 GJB1217A-2009 根据其电特性参数,使用专门仪器设备测试互换性、接触电阻、绝缘电阻、耐电压、密封性、分离力、电压驻波比等参数
环境可靠性试验 温度/湿度/振动三综合试验 GJB150.3-1986;GJB150.3A-2009;GB/T2423.2-2008、GB/T2423.1-2008、GJB150.4-1986、GJB150.4A-2009、GB/T2423.3、GB/T2423.4、GJB150.9-1986、GJB150.9A-2009等。 温度/湿度/振动三综合试验是用于确定温度、湿度和振动对受试样品在工作期间的安全性、完整性以及功能性能的综合影响的能力的一种测试方法。
环境可靠性试验 高温试验 GJB150.3-1986;GJB150.3A-2009;GB/T2423.2-2008等。 高温试验是用于确定元件、设备或其他产品在高温环境下使用、运输或贮存的能力的一种测试方法。
环境可靠性试验 低温试验 GB/T2423.1-2008、GJB150.4-1986、GJB150.4A-2009等 低温试验是用于确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输或贮存的能力的一种测试方法。
电气元件 指示器开关 GJB1512-1992 根据其电特性参数,使用专门仪器设备测试额定负载、接触电阻、绝缘电阻、介质耐压、动作压力、电寿命参数
电气元件 变压器 GB 1094.1-2013、GB 1094.2-2013、GB 1094.3-2003、GB/T 1094.4-2005、GB 1094.5-2008、GB/T 1094.6-2011、GB/T 1094.7-2008 根据其电特性参数,使用专门仪器设备测试绕组直流电阻、初级/次级线圈电压、负载电流、温升、噪声参数
机电元件 电动机 GB/T5171-2002 小功率电动机
机电元件 继电器 GJB65B-1999、QJ2323-1992、GJB1513-2009、GJB1515-2001 继电器检测包括电磁继电器、温度继电器、时间继电器和时间继电器。
电子器件 电阻器 GJB360B-2009、GJB1862-94、GJB2828-97 运用伏安法,通过数字多用表测试电阻值和电阻精度等级
电子器件 电阻器 GJB360B-2009、GJB1862-94、GJB2828-97 运用伏安法,通过数字多用表测试电阻值和电阻精度等级
电子器件 电容器 GB/T2693-2001;GJB360B-2009 根据电容器特性,使用数字电桥测试电容量、损耗角正切参数,使用漏电流测试仪测试漏电流/绝缘电阻参数
电子器件 电感器 GJB360B-2009 、GJB675A-2002 根据电容器特性,使用数字电桥测试电感量、品质因数参数,使用数字多用表测试直流电阻参数
气候环境试验 老化试验 老化试验
气候环境试验 温度变化试验 GB2423.22-2002、GJB150.5-1986、GJB150.5A-2009等 确定一次或连续多次温度变化对试验样品的影响。
电子器件 半导体器件 GJB128A-1997、GJB33A-1997、GB4587-1994、GJB597A-1996、GJB548B-2005、GJB2438A-2002 半导体器件包括晶体管、场效应管、晶闸管、可控硅、模拟集成电路、数字集成电路、混合集成电路。
电子器件 晶体器件 GJB2138-94 、GJB1648A-2011 晶体器件检测包括石英晶体谐振器和石英晶体振荡器。
电子器件 电位器 GJB360B-2009、GJB917-1990、GJB918-1990、GJB265A-2004 根据电位器特性,通过调节动触点,分别测试电位器的各项电参数
力学 振动


 
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设备展示
设备图片 设备名称/型号 主要技术参数
1吨推力电动振动台 频率范围:1Hz~3000Hz; 最大位移:38mm(瞬时),25mm(连续); 最大量级:35g(随机),100g(正弦); 系统一阶共振频率(带台面):2100Hz; 动圈质量:18kg;台面质量:25kg 漏磁:<15gauss(台面上方120mm); 垂直台穿孔螺栓尺寸:M10mm/M12mm。
ES-10
扫描振动台 频率范围:1Hz~2000Hz; 最大位移:38mm(瞬时),25mm(连续); 最大量级:25g(随机),80g(正弦); 系统一阶共振频率(带台面):2100Hz; 动圈质量:18kg;台面质量:25kg; 漏磁:<15gauss(台面上方120mm); 垂直台穿孔螺栓:M10mm。
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3吨 推力电动振动 频率范围:1Hz~2000Hz; 最大位移:50mm(瞬时),38mm(连续); 最大量级:25g(随机),120g(正弦); 系统一阶共振频率(带台面):1850Hz; 动圈质量:26kg;台面质量:20kg; 漏磁:<10gauss(台面上方150mm); 垂直台穿孔螺栓:M10mm/M12mm。
812VH
2吨 推力电动振动台 1)频率范围:1Hz~2200Hz; 最大位移:38mm(瞬时),25mm(连续); 最大量级:50g(随机),90g(正弦); 系统一阶共振频率(带台面):2050Hz; 动圈质量:18kg;台面质量:25kg; 漏磁:<15gauss(台面上方120mm); 滑台螺孔:Φ10mm; 垂直台穿孔螺栓:M10mm。
ES-20等
5吨 推力电动振动 1)频率范围:1Hz~2000Hz; 最大位移:51mm(瞬时),38mm(连续); 最大量级:40g(随机),100g(正弦); 系统一阶共振频率(垂直):1860Hz; 系统一阶共振频率(滑台):860Hz; 动圈质量:36kg;垂直台面质量:18kg; 滑台质量:120kg;漏磁:<10gauss(台面上方150mm);滑台螺孔:Φ10mm; 垂直台穿孔螺栓:M12mm。
MP712/LS544A
16吨 推力电动振动 频率范围:5Hz~2000Hz; 最大位移:51mm(瞬时),38mm(连续); 最大量级:50g(随机),90g(正弦); 垂直台一阶共振频率:1700Hz; 滑台一阶共振频率:850Hz; 动圈质量:116kg; 垂直台面质量:180kg; 漏磁:<10gauss(台面上方150mm); 垂直台穿孔螺栓:M12mm; 滑台螺孔:Φ12mm。
4022LX
20吨 电动振动台 频率范围:5Hz~2000Hz 最大位移:48mm(瞬时),38mm(连续) 最大量级:20g(随机),80g(正弦) 系统一阶共振频率(带台面):1750Hz 动圈质量:180kg 台面质量:210kg 漏磁:<10gauss(台面上方150mm) 垂直台穿孔螺栓:M12mm。
SC-1515
离心机 最小加速度:1g;最大加速度:100 g; 附加台面尺寸(mm):490mm×745mm; 最大承载重量:100Kg; 最大迎风面积:500mm×400mm; 固定方式:M12螺栓进行穿孔固定; 接线柱:2边各30个; 插线卡子:2边各60个。
Y53100-4/ZF
碰撞台 波形:半正弦; 加速度范围:4g~40g; 脉冲持续时间:30ms~6ms(加速度范围和脉冲持续时间的范围、关系与产品重量、尺寸有关,因此以实际试验情况为准); 脉冲重复频率:20次/min~60次/min; 台面螺孔:Φ12mm。
Y52500/ZF
LAB 冲击台 (1)负载范围:<400kg(负载的最大值与产品的尺寸有很大关联,要依据具体试验情况); 加速度范围(正弦):5g~300g ; 脉冲时间范围:0.5ms~35ms(速度与时间的对应关系以实际试验情况为准); 台面螺孔:Φ10mm。
ASII.24
跌落试验台 跌落方式:面、棱、角; 最大负载:300kg; 最大包装件尺寸:W1200mm×H1200mm×D1200mm; 跌落高度:0~1200mm。
DLJ-300
摆锤式冲击试验机 频率范围:1Hz~5000Hz; 最大冲击量级:5000g(Q=10); 最大负载:200kg; 台面螺孔:Φ12mm。
SP840
结构静强度试验设备 结构静力试验在实验室的条件下进行,通过模拟产品的载荷和边界条件,对其零部件、设备和系统等结构进行试验。可以实现轴压、弯矩、侧向力、扭矩、内压、外压、集中力等各种组合。
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多轴振动试验 多轴振动振动试验(具备高量级、大位移、线角复合振动(时域波形复现)、双台、三轴、多自由度等试验能力)
MAV-6000-5H
高温试验箱 温度范围:+50~+300℃; 工作室尺寸: W550mm×H550mm×D550mm。
WG301
高低温试验箱 温度范围:-75℃~+150℃; 线性温度变化率:5℃/min; 平均温度变化率:10℃/min,-55℃~+85℃(90kg铝时,全程平均); 温度波动度:≤±0.3℃; 温度偏差:≤±2℃; 工作室尺寸:W450mm×H300mm×D450mm。
Y701S15-LSTI
高低温湿热箱 (1)温度范围:-40℃~+150℃; 湿度范围:30~98 %RH; 温度波动度:±0.5℃;温度偏差:±2.0℃; 相对湿度偏差:±2%RH; 升温时间:+25℃~+130℃≤80min; 降温时间:+25℃~-40℃≤80min; 箱内尺寸: W800mm×H870mm×D700mm;
EX7723-HE
温循试验箱 (1)温度范围:-70℃~+150℃; 线性温度变化率:10℃/min(定值); 温度偏差:≤±3℃; 温度波动度:≤±1℃; 温度均匀度:≤2℃; 工作室尺寸:W900mm×H1000mm×D1100mm; 负载条件:铝50kg。
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温循湿热试验箱 (1)温度范围:-70℃~180℃; 线性温度变化率:10℃/min; 平均温度变化率:≥15℃/min; (负载为40kg钢,+85℃~-55℃,-55℃~+85℃); 温度调节精度:<±0.5℃; 温度稳定性:<±0.5℃; 温度偏差:<±2℃; 湿度范围:10~98%RH; 湿度稳定性:±2%RH; 工作室尺寸:W1000mm×H1100mm×D1000mm。
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温冲试验箱 (1)温度范围:-55℃~+150℃; 升温时间【环温~200℃≤30min(高温室单独运行)】; 低温室:预置温度范围0℃~-75℃; 升温时间【常温~-75℃≤80min(低高温室单独运行)】; 工作室:温度偏差±2℃(-55℃~150℃); 温度恢复时间≤5min; 工作室尺寸: W970mm×H460mm×D670mm。
WCD703
低气压试验箱 气压范围:常压~1×10-3Pa; 气压波动度:<1kPa:±10% 1~4kPa:±0.1kPa 4~40kPa:±5% 40kPa~84kPa:±2kPa ; 压力平衡时间以及波动时间范围要求均为10min之内; 工作室有效尺寸φ≥800mm(直径)×1000mm(长)。
DY-0.5m^3
高气压试验箱 气压范围:1.0×10-2 MPa~0.6MPa; 工作室尺寸φ≥800mm×D800mm。
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温度气压试验箱 设备尺寸:26m3; 温度范围:-60℃~+100℃; 温度气压范围:-40~+60℃、5kPa~50kPa; 温度偏差:≤±2℃; 温度波动度:≤±0.5℃; 气压范围:常压~1kPa; 压力偏差:±2℃kPa(40kPa~常压) ±5% (2kPa~40kPa) ±0.1kPa(1kPa~2kPa);
TD1000CSP
盐雾试验箱 温度范围:常温~+55℃; 工作室尺寸:W2000mm×H1000mm×D1000mm。
DCTC2300
霉菌试验箱 温度范围 -20~+150℃; 湿度范围:30~98%RH;  总功率:11kW; 温度均匀度:≤2℃; 温度波动度:±0.5℃; 温度偏差:±2℃; 湿度偏差:-3~+2% RH(低于75%RH时); 工作室尺寸:W950mm×H1070mm×D1020mm。
CEEC-J1000-80FT
高加速应力试验箱 温度范围:-100℃~+200℃; 温度变化率:70℃/min(最大速率); 台面尺寸:1m×1m; 最大加速度(RMS):50g; 振动频率:2~10,000Hz。
AST-35
高风淋雨试验箱 温度(40℃)波动率:+1.4℃~-0.3℃; 滴水量 :300L/(m2·h); 降雨强度(10cm/h)波动率:0.2cm/h; 降雨强度(20cm/h)波动率:-0.2cm/h; 风速(5m/s~18m/s)波动率:(0.1~0.3)m/s(25.5℃,转台进风处中心水平方向,空载); 工作台尺寸:Φ820mm的圆型平台; 雨滴直径范围:0.5mm~4.5mm。
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淋雨试验室 降雨范围:2.5mm/min~10 mm/min。
/LY-06-01
热真空设备 热真空试验设备一套,设备工作室尺寸3m³,温度范围:-100℃~100℃,最大温变率2℃/min,极限压力10-4Pa
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积冰冻雨 1、有效工作区域容积:宽1100mm×深1100mm×高1700mm; 2、温度范围:-25℃~85℃;温度均匀度: ≤2.0℃;温度波动度:≤±0.5℃; 3、湿度范围:50%RH~95%RH; 4、降温速率:>1℃/Min; 4、水滴尺寸:1-1.5mm; 5、水温控制:0-3℃/Min;覆冰厚度:6-75mm;
BRFB-210
太阳辐射 工作室容积2.2m³,工作室容积2.2m³,具备按照GJB150、GJB150A等各类标准开展太阳辐射试验的能力
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高风淋雨 最大降雨强度20cm/h,最大风速18m/s,满足GJB150.8A中程序I的要求
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综合试验系统 主要包括2T 、3T 、5T 、16T 、20T 综合试验系统。例如2T能力如下: 频率范围:1Hz~2500Hz; 最大位移:50mm(瞬时),38mm(连续); 最大量级:20g(随机),120g(正弦); 温度范围:-70℃~180℃;线性温度变化率:10℃/min; 平均温度变化率:≥15℃/min(负载为40kg钢,+85℃~-55℃,-55℃~+85℃);
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DDS测试设备 主时钟频率200MHz以下,信号输出频率80MHz以下,内嵌DAC分辨率12bit,频率控制字长度32位的DDS集成芯片的检测。
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ADC/DAC测试设备 模拟信号频15MHz以下,转换速率100Msps以下,分辨率16bit(含16bit)以下的ADC/DAC的检测。
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F/V、V/F、隔离放大器、音频/视频放大器测试设备 模拟信号频200MHz以下,电压±60V以下,压摆率1000V/us以下,失调电压测试精度±2uV的检测,偏置电流±1pA,时间测量精度±10ns。
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DC/DC变换器测试设备 可以实现功率1W到600W的DC/DC变换器的输出电压精度、电压调整率、负载调整率、效率、启动延迟、启动过充、纹波等电参数测试。
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运放、比较器、稳压器、基准、收发器、驱动器、光耦测试设备 运放环供电电压≤±30V,压摆率≤1000V/uS,带宽≤200MHz,偏置电压测试精度2uV,失调电流测试精度1pA,通用电流测量精度10pA,通用电压测量精度30uV,最高输出\测量电压100V,最大输出\测量电流25A。
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FPGA测试设备 可测试规模达三百万门级; CLB测试覆盖率达到100%;IOB测试覆盖率达到100%;IR测试覆盖率达到80%;可检测IO端口数728;直流参数测试。
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DSP器件测试设备 可以覆盖TI公司320C3X系列、320C2000系列、320C6000系列的多款DSP器件的功能测试、直流参数测试和IDCODE测试
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PAL/GAL电路测试设备 可实现中小规模数字集成电路逻辑功能测试、直流参数及交流参数的测试。测试封装种类包含DIP、PLCC等多种封装形式。
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AC/DC变换器测试设备 可以实现功率1W到600W的AC/DC变换器的输出电压精度、电压调整率、负载调整率、效率等电参数测试。
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接口电路测试设备 可测试数据传输频率为600Mbps,测试覆盖逻辑功能测试、直流参数测试及交流参数测试,可测最小延迟时间ns级,测试精度高。
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信号滤波器测试设备 截至频率15MHz以下,谐波失真82dB以下,插入增益损耗±0.1dB以内。
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中小规模数字集成电路测试设备 可实现中小规模数字集成电路逻辑功能测试、直流参数及交流参数的测试。测试封装种类包含DIP、SOP、SOJ、LCCC、SSOP、TSSOP、DBVR等多种封装形式。
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存储器测试设备 可以实现SRAM、FLASH、FIFO、SDRAM、EPROM、EEPROM、配置存储器等多种存储器的存储单元功能测试和直交流电参数测试。
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模拟乘法器、除法器、时基电路、模拟开关、采样保持、脉宽调制器、电源管理测试设备 时间参数测量精度±10nS,电流测量精度10pA,电压测量精度30uV,最高输出/测量电压100V,最大输出/测量电流25A。
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滤波器测试设备 可以实现DC/DC变换器配套使用的电源滤波器测试,测试参数包含输出电压、输出电压跌落、输出电流、直流电阻、功耗、共模插入损耗、差模插入损耗、绝缘电阻等。
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密封性检测(粗检漏、细检漏)设备 细检漏氦质谱检漏仪:1)正常检测模式:1×10-12Pa·m3/s~1×10-3Pa·m3/s;2)180度磁偏转质谱室;3)单台粗抽泵抽速:25m3/h;4)复合式涡轮分子泵抽速:200 l/s。粗检漏气泡检测仪:1)容积:9.5升;2)温度范围:50℃~145±5℃。
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恒定加速度(离心试验)设备 1)离心应力:0~30000G; 2)试验夹具适用封装:LCC、QFP、SOP、DIP、PGA、BGA、TO等。
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高低温贮存(高低温存储)设备 1)最高贮存温度:150℃;2)最低贮存温度:-55℃;
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温度循环设备 1)最高温变率:15℃/分钟;2)温度范围:-55℃~150℃。
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老炼试验(Burn-in)设备 1)时钟信号:最高100MHz;2)数字通道:96路;3)模拟信号:最高100KHz;4)最大幅值为20V;5)单路负载≥50W。
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颗粒碰撞噪声检测(PIND)设备 1)振动加速度0G~20G;2)冲击加速度0~2000G;3)试验频率40Hz~130Hz;4)灵敏度:毫克。
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超声扫描显微镜检测(SAM)设备 具有齐全的扫描探讨,包括25MHz、30MHz、35MHz、50MHz、75MHz、100MHz、110MHz、125MHz;具有门类齐全的扫描模式,包括A、B、C、X、P、G、Tray、Through等。具备各种封装类型塑封类器件的分层及裂纹缺陷检测能力。
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